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薄膜干涉在檢查光學元件表面時應...
發(fā)布時間
2012.12.22
根據(jù)對條紋形狀的分析,我們可以得知被檢表面存在的缺陷,從而在此基礎(chǔ)上進行相應的磨制,最終達到我們所需...
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